Texas Instruments - SN74BCT8374ANTG4

KEY Part #: K1320201

[6537pcs Estoque]


    Número da peça:
    SN74BCT8374ANTG4
    Fabricante:
    Texas Instruments
    Descrição detalhada:
    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP.
    Prazo de execução padrão do fabricante:
    Em estoque
    Validade:
    Um ano
    Chip De:
    Hong Kong
    RoHS:
    Forma de pagamento:
    Maneira da expedição:
    Categorias de Família:
    KEY Components Co., LTD é um distribuidor de componentes eletrônicos que oferece categorias de produtos, incluindo: Interface - Modems - ICs e Módulos, PMIC - Reguladores de tensão - finalidade especial, PMIC - Motor Drivers, Controladores, Interface - Controladores, Embutido - PLDs (dispositivo lógico programável), PMIC - Drivers de Gate, Embarcado - FPGAs (Field Programmable Gate Array) and Embutido - Microcontrolador, Microprocessador, Mód ...
    Vantagem competitiva:
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    GB-T-27922
    ISO-9001-2015
    ISO-13485
    ISO-14001
    ISO-28000-2007
    ISO-45001-2018

    SN74BCT8374ANTG4 Atributos do produto

    Número da peça : SN74BCT8374ANTG4
    Fabricante : Texas Instruments
    Descrição : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
    Series : 74BCT
    Status da Peça : Obsolete
    Tipo de lógica : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
    Tensão de alimentação : 4.5V ~ 5.5V
    Número de bits : 8
    Temperatura de operação : 0°C ~ 70°C
    Tipo de montagem : Through Hole
    Pacote / caso : 24-DIP (0.300", 7.62mm)
    Pacote de Dispositivo do Fornecedor : 24-PDIP