Número da peça :
SN74BCT8240ADWRE4
Fabricante :
Texas Instruments
Descrição :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Status da Peça :
Obsolete
Tipo de lógica :
Scan Test Device with Inverting Buffers
Tensão de alimentação :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operação :
0°C ~ 70°C
Tipo de montagem :
Surface Mount
Pacote / caso :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor :
24-SOIC