Número da peça :
SN74ABT18245ADL
Fabricante :
Texas Instruments
Descrição :
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Tipo de lógica :
Scan Test Device with Bus Transceivers
Tensão de alimentação :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operação :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montagem :
Surface Mount
Pacote / caso :
56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor :
56-SSOP