Número da peça :
SN74BCT8373ANT
Fabricante :
Texas Instruments
Descrição :
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Status da Peça :
Obsolete
Tipo de lógica :
Scan Test Device with D-Type Latches
Tensão de alimentação :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operação :
0°C ~ 70°C
Tipo de montagem :
Through Hole
Pacote / caso :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor :
24-PDIP