Número da peça :
SN74ABTH182652APM
Fabricante :
Texas Instruments
Descrição :
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Tipo de lógica :
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Tensão de alimentação :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operação :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montagem :
Surface Mount
Pacote de Dispositivo do Fornecedor :
64-LQFP (10x10)