[6505pcs Estoque]
- Número da peça:
- SN74BCT8374ADWRE4
- Fabricante:
- Texas Instruments
- Descrição detalhada:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC.
- Prazo de execução padrão do fabricante:
- Em estoque
- Validade:
- Um ano
- Chip De:
- Hong Kong
- RoHS:
- Forma de pagamento:
-
- Maneira da expedição:
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SN74BCT8374ADWRE4 Atributos do produto
Número da peça :
SN74BCT8374ADWRE4
Fabricante :
Texas Instruments
Descrição :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Series :
74BCT
Status da Peça :
Obsolete
Tipo de lógica :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação :
4.5V ~ 5.5V
Número de bits :
8
Temperatura de operação :
0°C ~ 70°C
Tipo de montagem :
Surface Mount
Pacote / caso :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor :
24-SOIC
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