Número da peça :
SN74ABT8245DWR
Fabricante :
Texas Instruments
Descrição :
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Tipo de lógica :
Scan Test Device with Bus Transceivers
Tensão de alimentação :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operação :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montagem :
Surface Mount
Pacote / caso :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor :
24-SOIC