Número da peça :
SN74ABT18504PM
Fabricante :
Texas Instruments
Descrição :
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Tipo de lógica :
Scan Test Device with Universal Bus Transceivers
Tensão de alimentação :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operação :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montagem :
Surface Mount
Pacote de Dispositivo do Fornecedor :
64-LQFP (10x10)